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博勒飛CTX質構儀在粉餅物性測試中的應用

作者: 上海倍迎 編輯: Ametek 來源: Brookfield 發(fā)布日期: 23-04-10
信息摘要:
博勒飛CTX質構儀在粉餅物性測試中的應用面部粉餅是壓縮粉餅。質地結構、色調和香味是爽膚粉的三個關鍵特 ...

博勒飛CTX質構儀在粉餅物性測試中的應用

面部粉餅是壓縮粉餅。質地結構、色調和香味是爽膚粉的三個關鍵特征,對制造商來說很重要,對消費者來說也是明顯的特征。


按體積計算,壓縮粉餅的基本成分是滑石粉,一種天然的含水硅酸鎂,占粉末總量的70%或更多?;凼狗埏炄彳浨乙子谑褂茫憩F(xiàn)出絲滑的使用體驗。粘合劑和其他原料的添加,可以有效防止粉餅在運輸和使用過程中發(fā)生破碎、開裂的情況,且具有除塵作用,為壓縮粉餅提供多樣的顏色、氣味,并保持良好的穩(wěn)定性。
通過質構分析,可以保證產品質量的穩(wěn)定性和一致性。因此,原料的選擇和它們各自的比重是重要的,并將影響粉餅的硬度。
CTX質構儀可以通過2毫米圓柱形探頭的穿刺測試評價壓縮粉餅的硬度或“強度”。



粉餅測試所用設備

儀器:CTX(5Kg負載單元)

附件:2 mm Cylinder Probe (TA-39)

軟件:Texture Pro軟件


image

CTX參數(shù)設置

測試類型:Compression壓縮

測前速度:0.5 mm/s

測試速度:1.0 mm/s

測后速度:4.5 mm/s

目標類型:Distance

目標距離:2 mm

觸發(fā)負載:5 g


注意:為了準確觸發(fā)測試,建議預測試速度小于或等于測試速度。穿透距離可以修改,但是,所選擇的目標距離應使探頭不接觸容器的底部。否則,儀器將過載,結果可能會有變化。

CTX測試結果


如下是一個典型的CTX質構儀測試譜圖,顯示了面餅的硬度,脆性等指標。

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圖1:粉餅穿刺測試曲線圖(負載/時間)



CTX結果分析


硬度:測試過程中峰值最大力值;

斷裂衰減:代表產品脆性的層次性,衰減越大說明脆性的層次感越弱;

斷裂性:產品發(fā)生第一次斷裂的力值,力值越大說明越不容易斷裂。

測試結果如下:

image

通過圖1可知,當探頭向下運行直至達到粉餅表面的破裂點之前,應力一直處于上升的趨勢;到達破裂點時,圖中顯示應力峰值;穿透表面后,測量的力值穩(wěn)步增加,直到測量到第二個峰值,峰值越大,說明粉末的致密程度越高。 


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